стань автором. присоединяйся к сообществу!
  • Метод эмульсионных трековых детекторов (ЭТД) уже более 60 лет активно используется в экспериментальной физике и до сих пор не превзойден по точности измерения траекторий элементарных частиц. Совершенно новые перспективы его применения открывает работа международных коллабораций с участием российских ученых, в том числе, сотрудников Национального исследовательского технологического университета «МИСиС» (НИТУ «МИСиС»).

    Принцип работы и история.

    Способ действия метода ЭТД можно описать так: заряженная частица, пролетая сквозь толщу эмульсии, «активирует» вдоль своего пути кристаллы бромистого серебра, которые в процессе проявки превращаются в наночастицы («зерна») металлического серебра.

    Впервые этот метод применил в ядерной физике Антуан Беккерель, который в 1896 году обнаружил радиоактивность солей урана по вызываемому ими почернению фотопластинки.

    Всеобщее признание метод ЭТД получил после открытия π-мезона в 1947 году. Он помог сделать важнейшие открытия в физике элементарных частиц: обнаружение ядерных взаимодействий π⁻- и К⁻-мезонов, оценку времени жизни π⁰-мезона (10⁻¹⁶ с), обнаружение распада К-мезона на три пиона, первое наблюдение «очарованных» частиц и распадов «прелестных» частиц в «очарованные», первое наблюдение рождения «очарованных» частиц в нейтринных взаимодействиях.

    Существенная проблема метода ЭТД — трудоемкость измерения при помощи оптических микроскопов координат наночастиц, образующих трек частицы. Десятки лет эти изменения проводились вручную. Автоматизация процесса с помощью роботизированных микроскопов позволилa исключить тяжелый человеческий труд и сделала возможными прорывные применения метода ЭТД в экспериментах DONUT и OPERA.

    0 читать дальше

  • МОДЕЛИРОВАНИЕ ОТКЛОНЕНИЯ КАНТИЛЕВЕРА НА ОСНОВЕПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КРЕМНИЯ

    Целью работы является разработка модели АСМ микрокантилевера на основе поликристаллического кремния и получение с ее помощью зависимостей влияния геометрических параметров на его чувствительность. Это позволит провести оптимизацию конструкции микрокантилеверов, которые используются в атомно-силовой микроскопии с оптической системой регистрацией отклонения.

    0 читать дальше

  • В основе зондовой нанотехнологии лежат уникальные приборы с зондом сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и атомно­силовой микроскоп (ACM).

    Зондовая нанотехнология представляет собой совокупность методов и спо­собов обработки и изменения свойств материала на уровне отдельных атомов, молекул и эле­ментов нанометровых размеров с помощью острийного зонда с одновременной визуализацией и контролем процесса.

    В сканирующем туннельном микроскопе зонд представляет собой металлический игольчатый электрод с очень тонким острием, за­крепленный на трехкоординатном сканере. Зонд-острие (АСМ зонд, кантилевер) находя­щийся под электрическим потенциалом, располагается перпендикулярно поверх­ности на таком расстоянии от нее, при котором возникает туннельный ток. Тун­нельный ток зависит от величины зазора между острием и поверхностью, а также от величины электрического потенциала на зонде. Если с помощью цепи обратной связи при сканировании поверхности под­держивать постоянным туннельный ток, то можно получить информацию о релье­фе исследуемой поверхности.

    Приборостроение для нанотехнологий. Широкий спектр сканирующих зондовых микроскопов для научных исследований — «СИТЭК».

    Прогресс в зондовой микроскопии и нанотехнологии напрямую связан с усложнением и интеллектуализацией зондовых инструментов.

    0 читать дальше

    АСМ/Раман прибор, базирующийся на сканирующем зондовом микроскопе ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ) и рамановском микроскопе Scientific™ DXR™.

    Предпринятые в прошлом году совместные усилия российского производителя научного оборудования для исследования наномира компании «НТ-МДТ» и Thermo Fisher Scientific, одного из главных производителей научных приборов в мире, привели к разработке комбинированного АСМ/Раман прибора, способного к одновременной записи АСМ изображений и рамановских изображений в определенных диапазонах волн, включая полученные с применением Зондово-усиленной рамановской спектроскопии.

    1 читать дальше

    Председатель Правления ООО «УК «РОСНАНО» Анатолий Чубайс и управляющий директор, руководитель Института технологических исследований, Shimadzu Corporation Йошикадзу Йошида вручили ежегодную премию RUSNANOPRIZE. В этом году лауреатами премии по направлению «Оптика и нанолектроника» были признаны профессор Швейцарской высшей технической школы Цюриха Ренато Зеноби (Швейцария), генеральный директор ЗАО «НТ-МДТ» Виктор Быков (Россия) и руководитель отдела развития продуктов и приложений ЗАО «НТ-МДТ» Павел Дорожкин (Россия) за разработку и коммерциализацию оборудования, зондов и методик для исследования оптических и физико-химических свойств объектов на нанометровом уровне.

    Разработанная в российской компании «НТ-МДТ» линейка коммерчески доступного научного оборудования позволяет с высоким уровнем точности совмещать два исследовательских подхода — сканирующую зондовую микроскопию (СЗМ) и спектроскопию комбинационного рассеяния (КР) — для изучения одного и того  же образца. Благодаря такому сочетанию методов профессору Ренато Зеноби удалось реализовать принцип так называемого гигантского усиления сигнала комбинационного рассеяния зондом (TERS, Tip-Enhanced Raman Scattering). Результатом стало построение карт сигнала спектроскопии КР с пространственным разрешением до 15 нанометров для широкого круга наноразмерных объектов.

    0 читать дальше


  •  Источник фото: tatar-inform.ru



    В КФУ идет активная подготовка помещений для МДЦАМ, одна из целей которого — развитие индустрии наносистем и материалов.

    (Казань, 7 июня, «Татар-информ»). В Казанском федеральном университете будет открыт Междисциплинарный центр аналитической микроскопии (МДЦАМ).

    В университете идет активная подготовка помещений для МДЦАМ, одна из целей которого — развитие индустрии наносистем и материалов, сообщает пресс-центр вуза.

    Как рассказал директор центра Юрий Осин, МДЦАМ будет охватывать передовые направления в области микроскопии, позволит проводить исследования с помощью физического воздействия электронов на исследуемый объект.

    «Речь идет о таких методах, как рентгеновский экранный микрозондовый анализ, дефракция обратно рассеянных электронов, вторичные электроны, катодо-люминесценция, дефракция электронов, — отметил он. — Будет представлена мощная оптическая микроскопия, которая будет в себя включать карфокальную микроскопию. К тому же это научно-учебный центр. Естественно, там предполагается проведение практик. Студенты будут частыми гостями центра. Думаю, что у нас будет практиковаться удаленный доступ. Оборудование уникальное, и его обслуживает только инженер, а студенты работают с измерениями, результатами и выполняют только некоторые задачи. Для работы на оборудовании уже подготовлены 3 специалиста, они прошли стажировку за рубежом».

    0 читать дальше